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紫外线高级还原工艺为处理传统氧化工艺难以解决的还原性污染物提供了可能。UV-ARPs利用紫外光照射产生强还原性活性中间体,主要是水合电子(e⁻ₐq)和氢自由基(H·),通过还原反应来降解目标污染物。具体过程是利用无机阴离子(如亚硫酸根离子SO₃²⁻、碘离子I⁻等)作为前体物,这些阴离子在紫外光照射下,通过电荷转移至溶剂机制,将一个电子释放到周围的水分子笼中,形成水合电子和相应的自由基。水合电子和氢自由基是极强的还原剂,其标准还原电位分别为-2.9 V和-2.3 V。

紫外线高级还原工艺的动力学遵循与紫外线高级氧化工艺类似的链式反应网络和稳态模型。
目标污染物的还原降解速率通常可描述为准一级动力学。例如,全氟化合物在UV/S(IV)工艺中的衰减和脱氟过程,就证明了该工艺的一级动力学反应特征。
紫外线高级还原工艺的主要影响因素是前体物的形态与pH值。最常用的前体物是四价硫化合物(S(IV)),pH值通过影响这些活性前体物的浓度,直接决定了水合电子等还原性中间体的生成效率。在最佳pH条件下,前体物主要以高光解活性的形态存在。
该工艺的效率由前体物的光解动力学和复杂的还原性链式反应网络共同决定。通常,它需要无氧环境以保护还原性中间体,且反应网络较为复杂。